Fornitura di un microscopio elettronico a trasmissione (TEM) analitico ad alta risoluzione che può operare ad una tensione di accelerazione fino ad almeno 200kV. Tale strumento deve essere configurato ed opportunamente attrezzato per poter: • generare immagini da elettroni trasmessi; • effettuare pattern di diffrazione elettronica in area selezionata (Selected Area Electron Diffraction, SAED) e che a diffrazione del fascio convergente (Convergent Beam Diffraction, CBD); • operare in modalità di microscopia elettronica a scansione e trasmissione (STEM) in campo chiaro (bright field, BF) e scuro (dark field, DF); • effettuare analisi e mappatura della distribuzione degli elementi mediante analisi a dispersione energetica di raggi X (EDS). Le caratteristiche dello strumento devono essere tali da rappresentare un compromesso ragionevole tra l’alta risoluzione ottenibile e il massimo grado possibile di inclinazione del campione